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场发射扫描电子显微镜(JSM-7610FPlus)

2023-05-11

  场发射扫描电镜(JSM-7610F Plus)应用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。

  JSM-7610F Plus 采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外,还具备利用GENTLE BEAM TM模式进行低加速电压观察、通过R-Filter分选信号等功能,满足各种需求的高扩展性。

  技术参数: 1.分辨率:0.8nm(15kV)/1.0 nm(1kV) 2.加速电压:0.1 kV—30 kV 3.放大倍数:25—100万倍 4.样品室尺寸:最大200mm直径样品

  


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