仪器名称：场发射电子探针显微分析仪

仪器型号：JXA-iHP200F型

生产厂家：日本电子

主要技术指标

1.浸没式(In-Len)高分辨肖特基场发射枪，二次电子探测器，背散射电子探测器。

2.自动进样设计Autoloading，光电过渡Zeromag。

3.配置五道谱仪，其中超轻元素L型大晶体的配置尤其适合特定元素Na、Mg、Al、Si、B、C等超轻元素痕量分析。

4.电镜/能谱/波谱一体化设计。

5.EasyEPMA操作导航系统。

应用范围：

场发射电子探针能够对样品所含元素进行高空间分辨率的定性或定量分析，元素分析范围可达B-U，包含：点成分分析，线成分分析以及面成分分析，检出限可低至数十ppm级，并且能够用二次电子和背散射电子进行同步形貌观察。

日本电子 JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪